●参数指标：
仪器型号：德国布鲁克D8-Advance
最小步长：0.0001°；
角度重现性:：0.0001°；
最大扫描度：1500°/min；
测量范围：-10°≤2θ≤155°；
●技术特点：
通过TWIN-TWIN光路设计，能实现BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换。
测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度。林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，有较高的使用效率和探测灵敏度。
●应用范围：
X射线衍射仪广泛应用于材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域，能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成，大部分晶体物质的定量、半定量分析；晶体物质晶粒大小的计算；晶体物质结晶度的计算等。